Програма предмет Методи дослідження властивостей матеріалів (Р-32)

Виписка з навчального плану

АНОТАЦІЯ

1. 
   Мікроскопічні методи дослідження матеріалів.
   
2. 
   Вимірювання мікротвердості напівпровідникових матеріалів на ПМТ-3.
   
3. 
   Вивчення теплопровідності матеріалів на прикладі ИТ--400, ИТС-.
   
4. 
   Дослідження температурної залежності питомого опору металів та сплавів.
   
5. 
   Визначення параметрів кристалічної ґратки методом Дебая-Шеррера.
   
6. 
   Розрахунок оптичних констант тонких плівок.
   
7. 
   Основні принципи Фур'є-спектроскопії.
   

1. 
   Структура і фізичні властивості твердого тіла / О. Г. Алевердова, О. В. Арикін, О. Ф. Богданова та інш./За. ред. Л. С. Паланкіна.- К.: Вища школа. 1992. -311 с.
   
2. 
   Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. - М.: Мир, 1989.- 564 с.
   
3. 
   Количественный электронно-зондовый микроанализ / Под. ред. В.Скотта, Г. Лава. - М.: Мир, 1986.-352 с.
   
4. 
   Кунце Х.-И. Методы физических измерений .-М.: Мир, 1989.-216 с.
   
5. 
   Методы иследования неорганических веществ.- Томск: Изд-во Томск. ун-та, 1984.-184 с.
   
6. 
   Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Под. ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье.- М.: Металургия , 1985.-392 с.
   
7. 
   Пека Г.П., Коваленко В.Ф., Куценко В.Н. Люминесцентные методы контроля параметров полупроводниковых материалов и проборов.- Киев: Техника, 1986.- 151 с.
   
8. 
   Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок.- М.: Мир, 1989.-344 с.
   
9. 
   Болеста І. М. Хімічний зв’язок і структура матеріалів. –Львів: Ред. вид. відділ Львів. ун-ту, 1991. 105с.
   
10. 
    Бенуелл К. Основы полярной спектроскопии. - М.: Мир, 1985. -384 с.
    
11. 
    Ю. В. Воробъев, В. Н. Добровольский, В. И. Стриха Методы исследования полупроводников.- Киев Изд-во Главного издательского объединения "Выща школа", 1988. - 232 с.
    
12. 
    Павлов Л. П. Методы определения основных параметров п/п материаллов. -М. Высш. школа, 1975. -20 с.
    
13. 
    Могилевский Б. М., Чудновский А. Ф. Теплопроводимость полупроводников. - М. Наука, 1972. -536 с.
    
14. 
    Батавин В. В., Концевой Ю. А. Федорович Ю. В., Измерение параметров п/п материаллов и структур. - М. Радио и связь, 1985. -260 с.
    
15. 
    Ю. Д.Чистяков, А. И. Пекарев Методы исследования структуры материалов(конспект лекций). Москва. МИЭТ. 1991. –342с.
    
16. 
    Методы анализа поверхностей/ Gод. ред. А. Зандерны. Изд-во “Мир”, 1979. -583 с.
    
17. 
    І. М. Болеста, І. В. Савицький, О. В. Футей Методичні вказівки до виконання лабораторних робіт із спецпрактикуму “Інфрачервона спектоскопія” для студентів фізичного факультету, Львів, 1991. 1,1 умов.друк.аркушів.
    
18. 
    Савицкий И. В., Болеста И. М., Футей А. В. Методические указания к выполению лабораторных работ по спецкурсу «Физическое материаловедение» для студентов IV- го курса физического факультета, Львов, ЛГУ,1989 г. Усл. печ. л. –13.
    
19. 
    Л. В. Костик, І. М. Матвіїшин, О. В. Футей. Методичні вказівки до лабораторного практикуму із спецкурсу “Симетрія та фізичні властивості кристалів для студентів факультету електроніки, Львів, 2003. 2,0 умов. друк. арк.