Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського icon

Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського




НазваМіністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського
Сторінка5/5
Дата22.09.2012
Розмір0.86 Mb.
ТипДокументи
1   2   3   4   5
^

Кирилюк, В.К.


Аппаратура для контроля структурных дефектов и геометрических параметров КСДИ

Электронная промышленность.-1986. - Вып.8. - С.36-39 Фахове видання

1986

0,16

Техн.

Прак.

укр




  1. 127


^

Чернер, В.М.


Новый метод контроля внутренних напряжений в кремниевых структурах с диэлектрической изоляцией

Микроэлектроника: Тезисы докладов. – Серия 3, Вып. 5. – 1986. – стр. 31

1986

0,041

Техн.

Прак.

укр




  1. 128


^

Чернер, В.М.


Внутренние напряжения и изменения некоторых свойств КСДИ

Микроэлектроника: Тезисы докладов. – Серия 3, Вып. 5. – 1986. – стр. 56

1986

0,041

Техн.

Прак.

укр




  1. 129


^

Чернер, В.М.


Оборудование для контроля качества КСДИ в процессе их производства

Микроэлектроника: Тезисы докладов. – Серия 3, Вып. 5. – 1986. – стр. 57

1986

0,041

Техн.

Прак.

укр




  1. 130



Галанов, Е. К.

Поляризационная установка для иссле­дования магнитооп­тического вращения и магнитного кругового дихроизма в полу­проводниках.

Оптико-механи­ческая промышлен­ность. – 1984. - № 16. - стр. 31-34 Фахове видання

1984

0,16

Техн.

Прак.

укр




  1. 131






Контроль толщины покрытий и его мет­рологическое обеспе­чение

Тезисы докладов 3-го Всесоюзного НТС, Рига, ФЭ и АИ Лат­вии




0,125

Техн.

Прак.

укр




  1. 132



Воронин, В. П.; Мовшиц, Б.Й.

Структурные дефек­ты кристаллической структуры в кремнии

Электронная техни­ка.- Сер. 6, вып. 3. – 1983.- стр.58-60 Фахове видання

1983

0,16

Техн.

Прак.

укр




  1. 133



Воронин, В. П.;

Установка контроля внутренних напряже­ний и геометрических параметров монокри­сталлических крем­ниевых пластин

Электронная техни­ка. - Сер. 6, вып. 4. – 1983. - стр. 78-79 Фахове видання

1983

0,083

Техн.

Прак.

укр




  1. 134



Воронин, В. П.; Мовшиц, Б.Й.

Структурные дефекты кристаллической структуры в кремнии

Электр. Техника. Сер. 6. Материалы. – 1983. - Вып. 3. - С.58-60. Фахове видання

1983

0,125

Техн.

Прак.

укр




  1. 135



Тузовский, А.М.; Воронин, В.П.

Установка контроля внутренних напряжений и геометрических параметров монокристаллических кремниевых пластин

Электронная техника. Сер. Материалы. – 1983. – Вып. 3 (176). – С. 78-79. Фахове видання

1983

0,083

Техн.

Прак.

укр




  1. 136

ТЗ




Структурные дефек­ты кристаллической структуры в кремнии

Тезисы 3-й Всесоюз­ной НТК "Технология получе­ния и материаловеде­ние монокристалов кремния", Москва. 1982

1982

0,083

Техн.

Прак.

укр




  1. 137



Концевой, Ю. А.

Анизотропия упругой деформации в крем­ниевых структурах с диэлектрической изо­ляцией.

Электронная техни­ка. - Сер. 6, вып. 3. - 1982. - стр. 47-49 Фахове видання

1982

0,125

Техн.

Прак.

укр




  1. 138






Исследование дефор­мации и внутренних напряжений в крем­ниевых пластинах.

«Заводская лаборато­рия».- 1982. - № 6. – стр. 52-55 Фахове видання

1982

0,16

Техн.

Прак.

укр




  1. 139



Макара, В. А.

Методы исследования неплоскостности и деформации крем­ниевых пластин в процессе производст­ва КС ДИ

Электронная техни­ка.- Сер. 6, вып. 3. - 1982. - стр. 42-45 Фахове видання

1982

0,16

Техн.

Прак.

укр




  1. 140



Анистратенко, А.Л.; Ковтонюк, А.М.

Аппаратура для контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин

Полупроводниковые материалы. - 1982. - Вып. 5. - С. 159-165. Фахове видання

1982

0,291

Техн.

Прак.

укр




  1. 141


Воронин, В.П.

Аппаратура для контроля дефектов кристаллической структуры в полупроводниковых материалах

Полупроводниковые материалы. - 1982. - Вып. 6. - С. 159-165. Фахове видання

1982

0,208

Техн.

Прак.

укр




  1. 142



Макара, В.А.

Деформации и внутренние напряжения в кремниевых пластинах и структурах

Электронная техника. – Сер. 2, вып. 2. – 1981. – стр. 40-43 Фахове видання

1981

0,16

Техн.

Прак.

укр




  1. 143



Лукинский, Ю.Л.

О повышении точно­сти измерительных устройств контроля качества полупровод­никовых материалов и структур

Электронная техни­ка.- Серія 8. - 1979. – стр. 56-64 Фахове видання

1979

0,33

Техн.

Прак.

укр




  1. 144

НПР




Исследование дефор­маций, разработка методик и промыш­ленной аппаратуры для контроля геомет­рических параметров кремниевых структур с диэлектрической изоляцией 05. 12. 18 - Твердо­тельная электроника и интегральная схемотехника, включая материалы, техноло­гию и спец. оборудо­вание.

Диссертация на соискание ученой степени кандидата техниче­ских наук, Москва, МИРЭА, 1979

1979

7,5

Техн.

Прак.

укр




  1. 145



Устименко, Д. А.

Устройство для изме­рения диэлектриче­ских потерь в КСДИ

Измерительная тех­ника.- 1979.- №1.- стр. 89-90 Фахове видання

1979

0,083

Техн.

Прак.

укр




  1. 146



Тузовский, А.М.; Концевой, Ю. А.

Разработка высоко­точного метода и уст­ройства измерения изгиба -кремниевых пластин

Электронная техни­ка.- Сер. 6, вып.8.- 1979.- стр. 124-128 Фахове видання

1979

0,208

Техн.

Прак.

рос.




  1. 147



Концевой, Ю.А.; Тузовский, А. М.

Полуавтоматический телевизионный мик­роинтерферометр «Монослой-2»

Электронная про­мышленность.- 1978.- №6.- стр.61-62 Фахове видання

1978

0,083

Техн.

Прак.

укр




  1. 148



Концевой, Ю. А.

Устройство контроля напряжений полупро­водниковых материа­лов

«Заводская лаборато­рия». - 1978. - № 12 Фахове видання

1978

0,208

Техн.

Прак.

укр




  1. 149



Бабаджанов, Л. С.

Применение мер кон­троля толщины по­крытий

Измерительная тех­ника.- 1978.- №8.- стр. 57-59 Фахове видання

1978

0,083

Техн.

Прак.

укр



1   2   3   4   5

Схожі:

Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського iconМіністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського

Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського iconМіністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського
Проблеми та перспективи використання інформаційних технологій в банківській діяльності
Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського iconМіністерство освіти І науки, молоді та спорту України Кременчуцький національний університет імені Михайла Остроградського Національний університет «Львівська політехніка»
Управління регіональною екологічною безпекою (керівник секції Володимир Шмандій)
Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського iconМіністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського
Анализ признаков классификации распознаваемых фрагментов цветных растрових изображений
Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського iconМіністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського
Математическое обеспечение имитационной модели процесса производства полупроводниковых монокристаллов
Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського iconМіністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського
Підсистема моделювання та прогнозування техніко-економічних показників виробництва монокристалічного кремнію
Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського iconДодаток 1 міністерство освіти І науки україни кременчуцький державний університет імені михайла остроградського

Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського iconМіністерство освіти І науки, молоді та спорту україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського
Сукцессионные смены биоценозов как причина экосистемного разнообразия Среднего Приднепровья
Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського iconМіністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського
Метод и устройство измерения диаметра слитка GaAs в процессе выращивания методом с жидкостной герметизацией
Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського iconМіністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського
Метод и устройство измерения диаметра слитка GaAs в процессе выращивания методом с жидкостной герметизацией
Міністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського iconМіністерство освіти І науки україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського
Материалы 21-й международной конференции «свч-техника и телекоммуникационные технологии», 12-16 сентября 2011 г. Севастополь. Крым,...
Додайте кнопку на своєму сайті:
Документи


База даних захищена авторським правом ©zavantag.com 2000-2013
При копіюванні матеріалу обов'язкове зазначення активного посилання відкритою для індексації.
звернутися до адміністрації
Документи